文献

J-GLOBAL ID：201702224634412526   整理番号：17A1335851

X線吸収微細構造の材料科学への応用【JST・京大機械翻訳】

Applications of X-Ray Absorption Fine Structure in Materials Science

著者 (8件)： Wang Yu (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Li Jiong (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Zhang Shuo (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Ma Jingyuan (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Wang Lihua (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Wei Xiangjun (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Huang Yuying (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204) ,  Jiang Zheng (中国科学院上海応用物理研究所 上海光源,上海,201204)
資料名： Zhongguo Cailiao Jinzhan  (Zhongguo Cailiao Jinzhan)
巻： 36  号： 3  ページ： 188-194  発行年： 2017年 
JST資料番号： C3058A  ISSN： 1674-3962  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： X線吸収微細構造(XAFS)法はシンクロトロン放射の発展に伴う独特な技術であり、材料の局部原子構造と電子構造を研究する重要な方法である。X線回折より、XAFSは吸収原子の周囲の局部構造に対して敏感であり、サンプルは固体、液体、さらには気体であることが分かった。XAFSの基本原理といくつかの一般的な実験方法を概説し、上海光源のXAFSビームラインの成果を結合し、近年の異なるXAFS方法の触媒、エネルギー、ナノと半導体などの材料科学研究分野における最新の進展を紹介した。材料科学研究におけるXAFS法の重要な役割を示した。最後に、国内のシンクロトロン放射光源と関連XAFSの研究方法の更なる発展により、XAFS技術の材料科学研究における応用の見通しを展望した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,  触媒 ,  原子構造 ,  光源 ,  *XAFS ,  半導体 ,  電子構造 ,  *材料科学 ,  X線回折 ,  ビームライン
準シソーラス用語： 上海市 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： materials science ,  synchrotron radiation ,  XAFS ,  time-resolved XAFS ,  in situ XAFS

分類 (4件)： X線回折法  (BK01020I) ,  コロイド化学一般  (CB11010C) ,  一般・無機化合物のX線スペクトル(分子)  (BH06051G) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線吸収微細構造 ,  材料科学 ,  応用