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J-GLOBAL ID:201702224732974341   整理番号:17A1652020

テラヘルツ分光法により測定した単層WS2の透過とシート電気伝導率【Powered by NICT】

Transmittance and sheet conductivity of monolayer WS2 measured by terahertz spectroscopy
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: UCMMT  ページ: 1-2  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,誘電体基板上に典型的な二次元(2D)材料WS2をテラヘルツタイムドメイン分光法(THz TDS)で測定し,Drude伝導率モデルを用いて解析した。単層WS2の透過率とシート電気伝導率が得られた。この技術は,THz周波数領域における薄膜2D材料を測定するために用いることができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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赤外・遠赤外領域の分光法と分光計 
タイトルに関連する用語 (4件):
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