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J-GLOBAL ID:201702224786484261   整理番号:17A1779059

群への出力分割と符号,二重誤りを検出する効果的にすることを用いた試験組合せ回路の方法【Powered by NICT】

Method of combinational circuits testing by dividing its outputs into groups and using codes, that effectively detect double errors
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: EWDTS  ページ: 1-8  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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組合せ論理回路の並行誤り検出(CED)システムの組織化のための新しいアプローチを提案した。このアプローチは,組合せ回路レイアウト解析の実装について述べると共に,低多重度をもつ誤差のための高い誤り検出性能を持つ分離可能符号の特徴を考慮することを意味した。CEDシステムはグループに試験回路のoutpus分割に基づいて構築し,参照として低冗長性を有する高効率符号の基を使用すると信じられている。このアプローチは出力の独立性あるいは一方向独立性の解析を必要とせず,その改質なしで試験した回路の内部構造要素の出力で単一故障の100%検出で構築されたCEDシステムを可能にした。参照組合せ回路を用いた実験は,提案した技術的解決策の効率を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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論理回路  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
タイトルに関連する用語 (5件):
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