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J-GLOBAL ID：201702224821238450   整理番号：17A1241166

超薄試料の品質評価:グラフェンへの応用【Powered by NICT】

Quality evaluation of ultra-thin samples: Application to graphene

著者 (5件)： Cui K. (National Research Council Canada, National Institute for Nanotechnology, 11421 Saskatchewan Drive, Edmonton, T6G 2M9, Canada) ,  Bosnick K. (National Research Council Canada, National Institute for Nanotechnology, 11421 Saskatchewan Drive, Edmonton, T6G 2M9, Canada) ,  Indoe R. (National Research Council Canada, National Institute for Nanotechnology, 11421 Saskatchewan Drive, Edmonton, T6G 2M9, Canada) ,  Malac M. (National Research Council Canada, National Institute for Nanotechnology, 11421 Saskatchewan Drive, Edmonton, T6G 2M9, Canada) ,  Mcleod R. A. (Center for Cellular Imaging and NanoAnalytics, Universitaet Basel, Mattenstrasse 26, Basel, 4058, Switzerland)
資料名： Microscopy Research and Technique  (Microscopy Research and Technique)
巻： 80  号： 8  ページ： 823-830  発行年： 2017年 
JST資料番号： T0531A  ISSN： 1059-910X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 出現する多くの新しい材料は,二次元(2D),しばしば唯一または二単分子層厚さている。遷移金属二カルコゲン化物,MoS_2,グラフェンなどを含んでいる。特にグラフェンは,多くの潜在的用途を持つように見えた。典型的に汚染のない結晶膜は興味がある。したがって,合成した試料の品質を日常的に評価する必要がある信頼できる方法。ここでは,基本的な透過型電子顕微鏡における標準電子回折と低/中程度の倍率イメージングを利用したそのような候補の1つ方法を提示した。電子照射線量が非常に低いので,調べた試料の電子照射損傷を減少させた。例として,この方法は成長したままのグラフェン試料の品質の評価とグラフェンにおける加熱誘起変化に関する研究に適用した。非晶質成分から結晶への体積と面積比を評価するために使用できる。法は自動化されている膜品質評価に優しい。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 照射線量 ,  単分子層 ,  自動化 ,  透過型電子顕微鏡 ,  *グラフェン ,  照射損傷 ,  電子回折 ,  非晶質 ,  結晶 ,  画像処理 ,  二次元 ,  *品質
準シソーラス用語： 面積比 ,  *品質評価 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 2D膜の品質評価 ,  電子回折 ,  低用量造影 ,  放射線損傷

分類 (3件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

タイトルに関連する用語 (4件)： 試料 ,  品質評価 ,  グラフェン ,  応用