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J-GLOBAL ID：201702225690968160   整理番号：17A1725185

相対強度法に基づく測定アーク温度分布とその時間発展【Powered by NICT】

Measuring arc temperature distribution and its time-evolution based on relative intensity method

著者 (3件)： Zhou Xue (Harbin Institute of Technology, 92 West Dazhi st., Harbin 150001, China) ,  Zhang Yong (Harbin Institute of Technology, 92 West Dazhi st., Harbin 150001, China) ,  Zhai Guofu (Harbin Institute of Technology, 92 West Dazhi st., Harbin 150001, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： Holm  ページ： 80-85  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 温度分布とその時間発展は電気機械デバイスにおける破壊過程中に発生するアークの基礎物理学,接触侵食を大きく決定する。大きく変動するスイッチングアークに,著者らはプラズマ内の同じ励起原子によって放射される二つの個々のスペクトルの相対的強度に基づく光学システムを実装した。アークから放出された光は最初に三角形プリズムを用いて二つの同じビームに分割した。,梁は異なる中心波長をもつ二つの狭帯域光学フィルタを通過する。最後に,ろ過アークを高速度カメラのCMOSセンサと予測される。二スペクトルの相対強度に基づくアルゴリズムは,画像補正後の各ピクセルに対する温度を計算するために開発した。典型的なアークの試験結果も示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *アーク放電 ,  *温度分布 ,  *時間発展 ,  高速度カメラ ,  画素 ,  画像補正 ,  プリズム ,  アルゴリズム ,  光学フィルタ ,  スペクトル ,  波長 ,  励起 ,  狭帯域 ,  プラズマ ,  機構部品

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  光デバイス一般  (BD06010L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 相対強度 ,  アーク ,  温度分布 ,  発展