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J-GLOBAL ID：201702225729830395   整理番号：17A1035659

ホログラフィー干渉法を用いたアルゴリズム解析【Powered by NICT】

Algorithm analysis with the help of holographic interferometry

著者 (3件)： Aydin Selen (The Koc Schools, Orhanli Koyu Cayirlar Mevkii Po. Box 60 34941, Istanbul, Turkey) ,  Demircali Ali Anil (Yildiz Technical University, Department Of Mechatronics Engineering, Istanbul, Turkey) ,  Uvet Huseyin (Yildiz Technical University, Department of Mechatronics Engineering, Istanbul, Turkey)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICEEE  ページ： 356-360  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の主目的は,ホログラフィック干渉計を用いた回路を走行するソフトウェアを試験することである。これに伴い,回路素子をより生産的に働くことを符号化の開発を可能にする。本研究では,同じ試料あるいは異なる試料,互換性に対してより耐久性であることからの変化する試験し,電荷は,回路全体に均等に分布したか否かを観測することを簡単にすることができる異なるコードクラスタとアルゴリズムを用いて簡単な試験となるであろう。本研究の第一段階は簡単な電気回路要素ホログラムを作成し,それを観察することによって干渉パターンに分解して実験機構の精度を試験することであった。最初に,その非状態におけるArduino回路のホログラムは,その作動状態の干渉はコードを用いて,ホログラムと一緒に観察され,二状態も比較した行った。そうすることにより,ホログラムによる回路の生成変化コードクラスタの状態を比較し,対照させることできる可能性を試験した。本研究の主な目的は,回路解析におけるホログラフィー干渉法を用いたソフトウェア比較を行うことができることである。ユーザがホログラムを記録する容易に他の機構または実験室を使用せずにできることを観察した,試験の中でそれらを用いた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電気回路 ,  ソフトウェア ,  耐久性 ,  *ホログラフィー干渉法 ,  ホログラム ,  回路部品 ,  電荷 ,  符号化 ,  *アルゴリズム ,  干渉計 ,  回路解析 ,  互換性
準シソーラス用語： 干渉パターン ,  *アルゴリズム解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： ホログラフィーの応用  (BD03074U) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (2件)： ホログラフィー干渉法 ,  アルゴリズム解析