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J-GLOBAL ID:201702225914933567   整理番号:17A1777111

EMC測定データの適合性評価における統計的問題【Powered by NICT】

Statistical issues in conformity assessment of EMC measurement data
著者 (1件):
資料名:
巻: 2017  号: URSI GASS  ページ: 1-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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適合性評価目的のためのBayes推論の使用を明らかにした。測定の不確実性を考慮した。二つの応用を詳細に考察した:電磁両立性(EMC)の部門と表面上の電界強度の均一性の評価におけるまたは塩基性EMC規格により要求される体積内のいくつかの製品規格において採用された80%/80%基準を用いて連続生産の適合性の評価放射免疫(例えばIEC61000 4 3とIEC61000 4 20)。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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雑音測定  ,  雑音一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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