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J-GLOBAL ID：201702225949648542   整理番号：17A1391789

基板上にマウントされた高速スイッチング半導体デバイスのための共通ソースインダクタンスの簡単な測定法【Powered by NICT】

Straightforward Measurement Method of Common Source Inductance for Fast Switching Semiconductor Devices Mounted on Board

著者 (3件)： Umetani Kazuhiro (Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Okayama, Japan) ,  Aikawa Kyota (Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Okayama, Japan) ,  Hiraki Eiji (Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Okayama, Japan)
資料名： IEEE Transactions on Industrial Electronics  (IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻： 64  号： 10  ページ： 8258-8267  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0234A  ISSN： 0278-0046  CODEN： ITIED6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 広バンドギャップ半導体スイッチング素子の最近の進歩は,それらの超高速スイッチング能力のために電力変換器の超高周波動作を可能にした。高速スイッチングは共通ソースインダクタンス,スイッチング損失を増加させ,偽の引き金に至る大きなスイッチングノイズを引き起こす可能性がある。,共通ソースインダクタンスの測定はしばしば高速スイッチング電力変換器の実用的設計で要求されるれてきた。しかし,共通ソースインダクタンスの測定は困難である,1)成形パッケージ下に隠れた配線経路は,このインダクタンスに有意に寄与する,2)ゲート回路と電力回路間の相互インダクタンスもこのインダクタンスに寄与し,3)このインダクタンスはループ配線経路の漂遊インダクタンスとして定義できないためである。これらの困難は,共通ソースインダクタンスの新しい測定法を提案することにより,この論文で検討した。提案した方法は,既にmounted電力回路に適用可能である。添加では,提案した方法は共通機器,信号発生器,オシロスコープ,電圧と電流プローブのような簡単な測定法を提供する。測定原理とともに,この論文はまた,提案した方法を評価するための実験を提案した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *半導体素子 ,  *インダクタンス ,  信号発生器 ,  ゲート回路 ,  電力変換器 ,  *高速度 ,  オシロスコープ ,  *半導体 ,  電力 ,  SHF【周波数】 ,  *スイッチング ,  電圧 ,  配線 ,  スイッチング素子 ,  スイッチング損失

分類 (1件)： 電力変換器  (NB08030B)

タイトルに関連する用語 (6件)： マウント ,  スイッチング ,  半導体デバイス ,  ソース ,  インダクタンス ,  測定法