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J-GLOBAL ID：201702226272919173   整理番号：17A1202513

X線回折環のフーリエ解析によるアルミニウム合金の応力測定

Stress Measurement of Aluminum Alloy Using Fourier Analysis of X-ray Diffraction Rings

著者 (3件)： 嘉村直哉 (NTN 先端技研) ,  宮崎利行 (アドバンスソフト) ,  佐々木敏彦 (金沢大)
資料名： 非破壊検査  (Journal of JSNDI)
巻： 66  号： 10  ページ： 492-497  発行年： 2017年10月01日 
JST資料番号： G0027A  ISSN： 0367-5866  CODEN： HIHKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： アルミニウム合金に対する二次元検出器方式のフーリエ解析X線応力測定法の適用可能性を検討した。X線応力測定法は非破壊・非接触で残留応力を測定できる手法だが,アルミニウム合金は粗大結晶粒や集合組織が発生しやすく,また構造物の狭隘部を測定する際には回折環全周が取得できないといった問題が発生し得る。粗大結晶粒を有するアルミニウム合金の平板に対してフーリエ解析法を適用した結果を報告した。

シソーラス用語： *X線回折 ,  *環 ,  *Fourier解析 ,  *アルミニウム合金 ,  *X線応力測定 ,  検証 ,  平板 ,  曲げ試験 ,  測定精度 ,  非破壊検査 ,  非接触測定 ,  残留応力
準シソーラス用語： 回折環 ,  四点曲げ試験

分類 (1件)： 金属材料  (HC02020X)

引用文献 (20件)：

• 1) I. C. Noyan and J. B. Cohen : Residual stress -Measurement by Diffraction and Interpretation-, Springer-Verlag New York, (1987)
• 2) 平 修二, 田中啓介, 山崎利春 : 細束X線応力測定の一方法とその疲労き裂伝ぱ問題への応用, 材料, 27(294), pp.251 - 256, (1978)
• 3) 吉岡靖夫, 大谷眞一, 新開 毅 : イメージングプレートの細束X線解析への適用, 非破壊検査, 39(8), pp.666 - 671, (1990)
• 4) 佐々木敏彦, 広瀬幸雄 : 2次元的X線検出器イメージングプレートを用いた全平面応力成分の単一入射X線応力測定, 材料, 44(504), pp.1138 - 1143, (1995)
• 5) 佐々木敏彦, 広瀬幸雄 : イメージングプレートによる二次元検出回折像を用いたX線三軸応力解析, 日本機械学会論文集 (A編), 61(590), pp.180 - 187, (1995)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  回折環 ,  フーリエ解析 ,  アルミニウム合金 ,  応力測定