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J-GLOBAL ID：201702226514229941   整理番号：17A1774766

突然変異試験のコストダウンのための分類の利用【Powered by NICT】

Using classification for cost reduction of applying mutation testing

著者 (2件)： Strug Joanna (Department of Electrical and Computer Engineering, Cracow University of Technology ul. Warszawska 24, 30-059 Krakow, Poland) ,  Strug Barbara (Department of Physics, Astronomy and Applied Computer Science, Jagiellonian University, ul. L/ojasiewicza 11, 30-348 Krakow, Poland)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： FedCSIS  ページ： 99-108  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 変異試験を適用することのコスト低減の問題を取り扱うために機械学習法を用いた。構造類似性を用いたプログラムの変異体を分類する方法を提案した。そのような類似性を計算するために各変異体は最初に階層的グラフ,変異体の制御フロー,変数と条件を表すに変換される。そのようなグラフ形グラフカーネルを用いた変異体間の類似性を計算するために導入した。分類アルゴリズムを予測に適用した。アプローチを実施しなければならない突然変異体の数を低下させるのを助けた。このアプローチの実験的検証も示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 類似性 ,  *原価低減 ,  *変異 ,  機械学習 ,  *突然変異
準シソーラス用語： 分類アルゴリズム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 遺伝的変異  (EC01030Y) ,  その他の汚染原因物質  (SB05040W) ,  遺伝学研究法  (EC01020N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 突然変異 ,  試験 ,  コストダウン ,  分類