抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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陽電子減衰トモグラフィー(PAT)は物質中の磁気的に拘束されたβ~+線ビームの線形減衰係数(LAC)を画像化するための新しい方法である。物体の完全な三次元LAC画像はビームに対する単一配向で内陽電子消滅速度密度を測定し,次に,PAT変換を適用することによって行うことができる。この画像の空間分解能は陽電子放出断層撮影(PET)の分解能によって制限され,または他のシステムデータだけでなく,磁力線の周りの陽電子の散乱と回転を得るために用いた。PETシステムの有限分解能もビームに平行な拡張LAC不連続性に関連する非線形アーチファクトをもたらす。イメージできる物体の質量厚さは陽電子ビームの範囲によって制限される。しかしながら,イメージングプロセス並びにその離散的サンプリングの方向性のために,異なる視野角で取得したPAT画像は,各物体の構造に関するユニークな情報をもたらす可能性がある。PAT画像形成の順方向モデルと,複数ビューからのデータを反復的に同時に用いた時には,PAT LAC画像の空間分解能を改善し,それらの有効視野を拡張し,アーチファクトを減少させることができることを逆伝搬アルゴリズムを述べた。法は測定データとシミュレーションデータで実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】