抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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アンドロイドアプリケーションを脅かす最も一般的な問題の一つであるメモリ漏れは,モバイル機器の限られたメモリを,アプリケーションの予期しない遅延,応答または事故を引き起こす可能性がある。活性/フラグメント漏れは最も一般的でメモリリークの重大な原因の一つであり,Androidアプリケーション市場に大きな影響を与えた。既存研究は,漏洩活性開発者の経験に大きく依存しているどちらか/フラグメントを同定するために,またはappのソースコードやマニュアル相互作用を必要とする。本論文では,手動の介入なしに自動的に漏洩活性/フラグメントを検出するためのLeakDAFと名付けた自動ツールを提案した。LeakDAFは試験下のappを自動的に実行するためにUI試験法を利用し,それらを管理するためのAndroidの機構に基づく漏洩活性およびフラグメントを同定するための投棄堆積ファイルを検査するためのメモリ解析手法を適用した。LeakDAFの有効性を評価するために,35オープンソース及び64種の市販アプリケーションにそれを適用し成功し,少なくとも10オープンソースアプリケーションおよび35市販アプリケーションのための1漏洩活性またはフラグメントを検出した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】