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J-GLOBAL ID：201702226796805938   整理番号：17A0914989

放射線効果の下での混合信号設計多様性システムの評価【Powered by NICT】

Evaluation of a mixed-signal design diversity system under radiation effects

著者 (6件)： Gonzalez Carlos J. (Federal University of Rio Grande do Sul (UFRGS) - Graduate Program on Microelectronics (PGMICRO), Porto Alegre, RS, Brazil) ,  Chenet Cristiano P. (Federal University of Rio Grande do Sul (UFRGS) - Graduate Program on Microelectronics (PGMICRO), Porto Alegre, RS, Brazil) ,  Budelon Matheus (Federal University of Rio Grande do Sul (UFRGS) - Graduate Program on Microelectronics (PGMICRO), Porto Alegre, RS, Brazil) ,  Vaz Rafael Galhardo (Institute for Advanced Studies (IEAv), Sao Jose dos Campos, SP, Brazil) ,  Goncalez Odair (Institute for Advanced Studies (IEAv), Sao Jose dos Campos, SP, Brazil) ,  Balen Tiago R. (Federal University of Rio Grande do Sul (UFRGS) - Graduate Program on Microelectronics (PGMICRO), Porto Alegre, RS, Brazil)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： LATS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,設計多様性冗長方式に基づくデータ収集システムは全イオン化線量効果下で試験した。データ収集システムは三A DCと二投票で構成され,異なるレベルの多様性(構造的および時間的)を実行している。このシステムは130nmの市販の混合信号プログラマブルSoC(PSoC 5)上で実装された,Cypress半導体である。システムは1krad(Si)/hの線量率全線量242krad(Si)のに達した~60Coガンマ線照射下で試験した。システムコピーの一つは,照射中の直線性に著しい劣化を示したが,他のものは左程酷くない劣化と機能性を維持し,混合信号冗長システムにおける回復力を改善するための多様性を用いることの利点を証明した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 線形性 ,  データ収集システム ,  半導体 ,  *放射線効果 ,  イオン化 ,  線量率 ,  冗長システム ,  放射線量 ,  γ線照射 ,  冗長方式 ,  投票
準シソーラス用語： 機能性 ,  *混合信号 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： 放射線効果 ,  混合信号 ,  設計 ,  多様性 ,  評価