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J-GLOBAL ID:201702228180440549   整理番号:17A1836516

電流シングルイベント効果の概要はNASA Goddard宇宙飛行センターとNASA電子部品と装着プログラムからの結果【Powered by NICT】

Compendium of current single event effects results from NASA goddard space flight center and NASA electronic parts and packaging program
著者 (11件):
資料名:
巻: 2017  号: NSREC  ページ: 1-9  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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シングルイベント効果(SEE)試験と解析エレクトロニクスに及ぼす放射線の影響を調査した結果を提示した。本論文では,試験結果の要約である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  ,  半導体集積回路  ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  ,  宇宙線・天体物理観測技術 

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