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J-GLOBAL ID：201702228424442218   整理番号：17A1185999

EELSと陰極線ルミネセンスにおける遷移放射【Powered by NICT】

Transition radiation in EELS and cathodoluminescence

著者 (4件)： Stoger-Pollach Michael (University Service Center for Transmission Electron Microscopy, Technische Universitaet Wien, Wiedner Hauptstrasse 8-10, 1040 Wien, Austria) ,  Kachtik Lukas (University Service Center for Transmission Electron Microscopy, Technische Universitaet Wien, Wiedner Hauptstrasse 8-10, 1040 Wien, Austria) ,  Miesenberger Bernhard (University Service Center for Transmission Electron Microscopy, Technische Universitaet Wien, Wiedner Hauptstrasse 8-10, 1040 Wien, Austria) ,  Retzl Philipp (University Service Center for Transmission Electron Microscopy, Technische Universitaet Wien, Wiedner Hauptstrasse 8-10, 1040 Wien, Austria)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 173  ページ： 31-35  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 遷移放射の励起確率は放出された光の光学的分析を用い,第二の電子エネルギー損失分光法を用いた1回透過型電子顕微鏡におけるビームエネルギーを変えて測定した。両方の場合において理論と良く一致することが分かった同様の結果。この確率についての知識は遷移放射をEELSとCLデータ解釈で考慮しなければならないかどうかを判定することが可能になった。さらに,試料表面のみで起こる遷移放射の発光,電子は,真空/試料界面を通過し,その誘電環境の変化を感じたとき,ことを示した。アルミニウムの場合には低損失EELSスペクトルに及ぼす遷移放射の影響はわずかであること,が明確になり,このことは多くの他の材料のための無視してよいであろうと結論した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 励起 ,  アルミニウム ,  *電子エネルギー損失分光法 ,  透過型電子顕微鏡 ,  スペクトル ,  *陰極線ルミネセンス ,  *遷移放射 ,  界面

著者キーワード (3件)： 遷移放射 ,  EELS ,  陰極線ルミネセンス

分類 (5件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  ルミネセンス一般  (BM08091B) ,  分光法と分光計一般  (BD07041Q)

タイトルに関連する用語 (3件)： EELS ,  陰極線ルミネセンス ,  遷移放射