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J-GLOBAL ID：201702228663915596   整理番号：17A1256745

工業環境における試験実行履歴を用いた欠陥予測【Powered by NICT】

Predicting Defects Using Test Execution Logs in an Industrial Setting

著者 (5件)： Tosun Ayse ,  Turkgulu Ozgur ,  Razon Dogan ,  Aydemir Hamza Yusuf ,  Gureller Arda
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICSE-C  ページ： 294-296  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 研究者は,しばしばソフトウェア欠陥を研究し,予測するための開発プロセスと最終製品(ソースコード)に焦点を当てた。残念なことに,これらのモデルは,開発プロセスに関するデータ源へのアクセスではないソフトウェアプロジェクトには適用できない。例えば,その事業請負業者のために試験を行う場合,試験プロセスに基づく会社のインプロセス品質を評価することが可能であった。はこのようなビジネス制約を説明するEricssonトルコの産業事例を示した。Ericssonトルコで開発された大規模ソフトウェアアプリケーションの受入試験実行ログから抽出したインプロセス試験メトリックスの集合を定義した。これらのメトリックスを用いて15週間の受入試験プロセスを測定し,毎週受入試験で報告されている欠陥の数を予測した。本論文では,著者らの測定,モデル構築と評価段階を報告した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： トルコ共和国 ,  ソフトウェア ,  モデル ,  *受入検査 ,  品質 ,  モデリング
準シソーラス用語： メトリックス ,  ソフトウェアプロジェクト ,  ソースコード ,  最終製品 ,  開発プロセス ,  *欠陥予測 ,  *実行履歴 ,  *工業環境 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (4件)： 工業環境 ,  試験 ,  実行履歴 ,  欠陥予測