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J-GLOBAL ID：201702228837502676   整理番号：17A0222806

ビフェニレン膜の電子構造研究

Electronic structure investigation of biphenylene films

著者 (10件)： Totani R. (Department of Physical and Chemical Sciences, University of L’Aquila, via Vetoio, 67100 Coppito L’Aquila, Italy) ,  Grazioli C. (Department of Chemical and Pharmaceutical Sciences, University of Trieste, 34127 Trieste, Italy) ,  Zhang T. (Department of Physics and Astronomy, Uppsala University, P.O. Box 516, SE-751 20 Uppsala, Sweden) ,  Bidermane I. (Institute Methods and Instrumentation for Synchrotron Radiation Research, Helmholtz Zentrum Berlin, Albert-Einstein St. 15, 12489 Berlin, Germany) ,  Lueder J. (Department of Physics and Astronomy, Uppsala University, P.O. Box 516, SE-751 20 Uppsala, Sweden) ,  de Simone M. (CNR-IOM,S.S. 14 km 163.5, I-34149 Trieste, Basovizza, Italy) ,  Coreno M. (CNR-ISM, S.S. 14 km 163.5, I-34149 Trieste, Basovizza, Italy) ,  Brena B. (Department of Physics and Astronomy, Uppsala University, P.O. Box 516, SE-751 20 Uppsala, Sweden) ,  Lozzi L. (Department of Physical and Chemical Sciences, University of L’Aquila, via Vetoio, 67100 Coppito L’Aquila, Italy) ,  Puglia C. (Department of Physics and Astronomy, Uppsala University, P.O. Box 516, SE-751 20 Uppsala, Sweden)
資料名： Journal of Chemical Physics  (Journal of Chemical Physics)
巻： 146  号： 5  ページ： 054705-054705-7  発行年： 2017年02月07日 
JST資料番号： C0275A  ISSN： 0021-9606  CODEN： JCPSA6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光電子分光法(PS)およびX線吸収端微細構造(NEXAFS)分光法を用いて,Cu(111)結晶上に堆積された異なる厚さのビフェニレン薄膜の占有および空状態の密度を調べた。得られた結果を,以前の気相スペクトルおよび単一分子密度汎関数理論(DFT)計算と比較し,表面上の吸着によって誘起された膜中の分子電子構造の可能な改変についての洞察を得た。さらに,NEXAFS測定は,膜の厚さによる分子配列の変化を特徴付けることを可能にし,基板-分子相互作用を明確にするのを助けた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 密度汎関数法 ,  銅 ,  基板 ,  *有機材料 ,  *電子構造 ,  吸着 ,  XANES ,  配列 ,  脂環式化合物 ,  ジエン ,  芳香族縮合炭化水素
準シソーラス用語： 金属基板 ,  *有機薄膜 ,  X線吸収端微細構造 ,  分子配列

分類 (3件)： 表面の電子構造  (BM02080J) ,  電子分光法  (BK01050P) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

物質索引 (1件)： ビフェニレン

タイトルに関連する用語 (3件)： ビフェニレン ,  電子構造 ,  研究