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J-GLOBAL ID：201702229038913896   整理番号：17A1837232

蛍光X線分析用新けい石質認証標準物質系列“JRRM220系列”の紹介

著者 (6件)： 朝倉秀夫 (岡山セラミックス技術振興財団) ,  森邦夫 (AGCセラミックス) ,  池上克重 (品川リフラクトリーズ) ,  戸松一郎 (TYK) ,  徳永竜二 (黒崎播磨) ,  村田守 (鳴門教大 大学院)
資料名： 耐火物  (Refractories)
巻： 69  号： 12  ページ： 576-584  発行年： 2017年12月01日 
JST資料番号： F0515A  ISSN： 0039-8993  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 耐火物技術協会には,1998年までの13年間をかけて調整・認証値付けされた9種類の傾向X線(XRF)分析用標準物質系列(JRRM系列)が整備されている。後継けい石耐火物用JRRM221~232(JRRM220系列)の調整は2011年から始まった。本稿では,JRRM220系列の調整から認証値付けまでの経緯と用いた試料等について紹介した。1)JRRM200(221~232)系列粉末の調整,2)実験試料の採取と標準物質粉末の保管・管理,3)試料粉末の均質性・平均粒径・鉱物相の確認:安定性に関する考察,4)JRRM220系列粉末の化学分析:化学分析法,共同実験所,5)共同実験結果の検討:分析値の扱い方,ヒストグラムによる評価,所内と所間の分散に関する評価,Grubbsの方法による分析値の評価,分析値の平均値の不確かさの評価,共同実験結果の最終評価,6)JRRM220系列の完成。

シソーラス用語： *耐火物 ,  珪石煉瓦 ,  *珪石 ,  *標準物質 ,  *蛍光X線分析 ,  学協会 ,  試料調製 ,  保管 ,  粒度分布 ,  均一性 ,  化学分析 ,  統計解析 ,  精度 ,  鉱物分析
準シソーラス用語： ケイ石質煉瓦 ,  XRF ,  均質性 ,  化学分析法 ,  共同研究 ,  統計解析法 ,  ヒストグラム解析 ,  不確かさ推定 ,  分析精度 ,  鉱物組成分析

分類 (1件)： 耐火物  (YC04030N)

引用文献 (20件)：

• 朝倉秀夫,池上克重,山田康治郎,脇田久伸:分析化学,49[5]297-306(2000).
• 日本規格協会:JISR2011附属書3(2007).
• 朝倉秀夫,三橋久:X線分析の進歩,21,93-110(1990).
• 池上克重,朝倉秀夫:分析分科会資料No.1151(2011).
• 仁科利純,三橋久,朝倉秀夫:耐火物,46[5]253-262(1994).

タイトルに関連する用語 (4件)： 蛍光X線分析 ,  けい石 ,  認証標準物質 ,  系列