抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本稿は,近赤外光による食品中の異物検出の動向として,目覚ましい勢いで発展を遂げている発光ダイオード(LED)を用いた検査技術を紹介する。偏光を用いた透過差分異物検出の光学系は,近赤外LED光源と試料,CMOSカメラから成る既存光学系に,2枚の偏光板を試料前後へ配置した透過光学系である。LEDからの検査光を試料に照射し,試料を透過した光をカメラで受光,撮像した画像データを解析することで,検出画像を得る。偏光板の偏光方向を制御することで,試料中の光透過率を変化させる。本異物検査技術は,差分画像処理時に要求される同一の対照試料を必要としないため,様々な食品や工業製品に応用展開が可能である。さらに,最適な画像演算処理を行うことで,異物の検出能力が飛躍的に向上している。一方で,商品の厚みや形状に由来する透過光の減衰や散乱なで,これまでと同様な課題はある。