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J-GLOBAL ID：201702229208470033   整理番号：17A0897317

測定はEMIとRFIの最小化を手助けする

Measurements Help Minimize EMI and RFI

著者 (1件)： BROWNE Jack
資料名： Microwaves & RF  (Microwaves & RF)
巻： 56  号： 6  ページ： 41-42  発行年： 2017年06月 
JST資料番号： C0037B  ISSN： 0745-2993  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子装置に関連した電源系由来の低周波数干渉(EMI)と電波由来の無線周波数干渉(RFI)について,規格と測定器を解説した。典型的なEMI源はスイッチモード電源であり,これが生成する高調波信号は電子装置の導体を通して伝播し,また発振器や伝送線路などはRFIを放射するアンテナになることがある。従って,電子装置が発するEMI/RFIと電子装置の干渉耐性の測定が必要である。EMC(電磁両立性)規格にはIEC/CISPR,ISO,ITU規格の外に米国FCC規格やMIL規格など各国独自規格がある。これらの規格に準拠した測定器が市販されており,また測定の請負会社もある。プロトタイプ製作に先立ち,電磁シミュレーションソフトウェアを活用するとよい。

シソーラス用語： 電子装置 ,  *電磁干渉 ,  電磁波干渉 ,  *電磁両立性 ,  電磁波放射 ,  IEC規格 ,  国際機関 ,  米国連邦通信委員会 ,  電気試験 ,  スイッチングレギュレータ ,  *干渉測定
準シソーラス用語： CISPR ,  *EMC【電磁干渉】 ,  EMC試験 ,  *EMI【電磁干渉】 ,  FCC【米国】 ,  *電磁波干渉測定

分類 (1件)： 雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (4件)： EMI ,  RFI ,  最小化 ,  手助け