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J-GLOBAL ID：201702229344145833   整理番号：17A0697886

MnドープしたマルチフェロイックDyFeO_3セラミックの研究【Powered by NICT】

Study of Mn doped multiferroic DyFeO₃ ceramics

著者 (7件)： Reddy S. Shravan Kumar (Department of Physics, Osmania University, Hyderabad, Telangana, India) ,  Raju N. (Department of Physics, Osmania University, Hyderabad, Telangana, India) ,  Reddy Ch. Gopal (Department of Physics, Osmania University, Hyderabad, Telangana, India) ,  Reddy P. Yadagiri (Department of Physics, Osmania University, Hyderabad, Telangana, India) ,  Reddy K. Rama (Department of Physics, Osmania University, Hyderabad, Telangana, India) ,  Gupta S.M. (LMS, Raja Ramanna Center for Advance Technology, Indore, Madhya Pradesh, India) ,  Reddy V. Raghavendra (UGC DAE Consortium for Scientific Research, University Campus, Khandwa Road, Indore, Madhya Pradesh 452001, India)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 43  号： 8  ページ： 6148-6155  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ゾル-ゲル法で作製したMnドープDyFeO_3(すなわち,DyFe_1 xMn_xO_3 =0~0.5)多結晶材料の構造,Raman,室温および温度依存性漏れ電流密度,誘電,磁化と室温Moessbauer研究を報告した。X線回折(XRD)パターンのRietveld精密化から,全ての試料はいかなる検出可能な不純物を含まない単相で形成されていることが分かった。ドーピングを用いたRamanモードは,このようなドープオルソフェライトの文献と一致した。室温(RT)漏れ電流密度(J E)測定から,漏れ電流密度はMnドーピング濃度,微細構造の観点から説明されるとともに増加することが観察された。低温漏れ電流密度(J E)測定から観察されるように,漏れ電流密度は各試料の温度の低下と共に減少することが分かった。さらに,活性化エネルギーは温度依存J-Eデータから計算した。誘電損失データを周波数依存性を示すことを観測し,得られた活性化エネルギーは空間電荷からの寄与を示した。温度依存磁化データから,Mn含有量の増加と共に,スピン再配向(SR)転移温度(T_SR)は高温側に移動することが分かった。種々のMnドーピング濃度と10Kと300KでのM-H曲線から,飽和磁化(M_S)は,Mnドーピングの増加とともに減少することが分かった。室温Moessbauerデータは,Fe~3+状態の存在とMn含有量の増加と共に場内部超微細の緩やかな減少を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： ゾル-ゲル法 ,  *マンガン ,  *ドーピング ,  誘電損失 ,  多結晶 ,  微細構造 ,  *セラミック ,  漏れ電流 ,  周波数依存性 ,  材料 ,  X線回折 ,  温度依存性 ,  飽和磁化 ,  活性化エネルギー
準シソーラス用語： 漏れ電流密度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (2件)： 希土類オルトフェライト ,  漏れ電流

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (5件)： Mn ,  ドープ ,  マルチフェロイック ,  セラミック ,  研究