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J-GLOBAL ID:201702229475583603   整理番号:17A1557602

マルチブロック構造メッシュ上の静電パーティクル-イン-セルコード【Powered by NICT】

An electrostatic Particle-In-Cell code on multi-block structured meshes
著者 (5件):
資料名:
巻: 350  ページ: 796-823  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0860A  ISSN: 0021-9991  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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曲線PIC(CPIC)と呼ばれる多重ブロックグリッド,局所構造化,曲線メッシュ上の静電パーティクル-イン-セル(PIC)コードを提示した。マルチブロックメッシュは複雑な形状を正確に捉えるとよいメッシュ品質,PICで使用されることが多いことを単一ブロック構造メッシュで可能でない,CPICを最初に開発したものに必須である。個々のブロックの構造化された性質にもかかわらず,任意の数のブロックのが出会う場所マルチブロックメッシュは大域的な意味で非構造メッシュに似ており,いくつかの新しい挑戦,メッシュ特性における不連続性の存在と隣接ブロックを横切る配位配向変化のような,polyjunction点を導入した。CPICでは,これらの課題は特徴アプローチすることによって実現した(1)PIC法の曲線定式化:各メッシュブロックは物理的空間,メッシュが曲線と任意の歪んだが,論理空間に写像し,メッシュは均一で単位立方体に直交する(2)マルチブロックメッシュに適したPoisson方程式の模倣離散化および(3)ハイブリッド(論理空間position/physical空間速度),ブロックを横切って移動する粒子追跡のための必要性によって生成された性能劣化を軽減する非同期粒子ムーバ。CPICの数値精度を二種の標準プラズマ-材料相互作用試験,対応する解析解と良い一致を示すを用いて検証した。非構造化メッシュ上のPICコード,はまた取り扱い複雑な形状におけるそれらの柔軟性のために使用されてきたが,その性能はデータ局所性と間接的データアクセスパターンに関連した問題を抱えていると比較して,多重ブロック構造メッシュ上のPICコードは,解の精度と計算効率を維持し,複雑な形状を捕捉するための最良の妥協を提供する可能性がある。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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