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J-GLOBAL ID：201702229733620412   整理番号：17A0499461

イオン架橋キトサン膜のポジトロン消滅分光法によるサブナノレベルの分子充填の検出および関連するポジトロン消滅特性

Probing sub-nano level molecular packing and correlated positron annihilation characteristics of ionic cross-linked chitosan membranes using positron annihilation spectroscopy

著者 (7件)： Xia Rui (Key Lab for Magnetism and Magnetic Materials of Ministry of Education, School of Physical Science and Technology, Lanzhou University, Lanzhou 730000, China) ,  Cao Xingzhong ,  Gao Meizhen ,  Zhang Peng ,  Zeng Minfeng ,  Wang Baoyi ,  Wei Long
資料名： Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)
巻： 19  号： 5  ページ： 3616-3626  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二価パラジウム架橋キトサンは顕微鏡スケールの構造変換に依存する機械的性質および熱特性の増強を示す。本研究はパラジウムカチオンにより直接架橋されたCS膜(CS-cr-PM)を溶液キャスト法により調製した。キトサン鎖の移動度は架橋によって大幅に低下し,水による膨潤度の測定による膨潤比は顕著に減少した。イオン架橋CS系の鎖充填を分子レベルで調べるために,化学架橋CSの構造を広角X線回折(WAXD),赤外スペクトルの組合せにより検討し,ポジトロン消滅寿命分光法(PALS)と同時コインシデンスDoppler広がり(CDB)分光法の組合せによりCS-cr-PMの自由体積に関連するサブナノレベルの分子充填および自由体積ナノホールの化学環境をパラジウム塩担持量の関数としてコヒーレントな情報を得た。自由体積サイズおよびサイズ分布の変化をオルト-ポジトロニウム(o-P)の寿命および寿命分布により決定した。その結果,CS分子とパラジウムカチオンの強い相互作用によってCS-cr-PMの結晶化度変化が生じ鎖充填密度が変化した。一方,ポジトロニウム生成のドーピングによる顕著な阻害効果が観測され,塩素イオンの存在によって説明した。イオン架橋CSシステムの微細構造および関連するポジトロン消滅特性の研究へのポジトロン消滅分光法の応用を系統的に考察した。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *膜 ,  *架橋【高分子】 ,  *陽電子消滅 ,  パラジウム化合物 ,  金属イオン ,  X線回折 ,  赤外スペクトル ,  自由体積 ,  ポジトロニウム ,  結晶度 ,  微細構造
準シソーラス用語： Doppler広がり ,  *イオン架橋 ,  オルソポジトロニウム ,  *キトサン膜 ,  パラジウムイオン ,  *ポジトロン消滅 ,  結晶化度 ,  膨潤度

分類 (4件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  陽電子消滅  (BK16052L) ,  その他の高分子の反応  (CG03040H)

タイトルに関連する用語 (6件)： イオン架橋 ,  キトサン膜 ,  ポジトロン消滅 ,  分光法 ,  サブ ,  分子充填