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J-GLOBAL ID：201702229991303125   整理番号：17A1398710

潜在誤差を持つステンシル計算のための回復力【Powered by NICT】

Resilience for Stencil Computations with Latent Errors

著者 (4件)： Fang Aiman ,  Cavelan Aurelien ,  Robert Yves ,  Chien Andrew A.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICPP  ページ： 581-590  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近エクサスケールとエクサスケールシステムにおける誤り率の予測と測定は劇的な成長,極端なスケール(10′9コア),同時実行,ソフトウェアの複雑さ,およびディープサブミクロントランジスタスケーリングに起因することを示唆した。このような成長は,重大な関心事になり,「脱出」誤差の発生率を増加させ,静か改悪応用状態かもしれない。そのような誤差は,しばしばアプリケーションソフトウェア試験によって明らかにされた長潜時ができ,潜在的誤差として知られている。潜在誤差から効率的に回収,応用集束回収率(ABFR)と呼ばれるアプローチをどのように調べた。特に,ステンシル計算の事例研究を示し,回復努力を削減するための高度道路試験と枝刈りを用いて,必要なABFRは回復努力に焦点を当てるかを示し,広く有用な計算構造と,応用計算による重なり合うように回復努力を可能にした。ステンシルにABFRアプローチを解析し,特性化し,誤り率と検出間隔(潜時)によってパラメータ化された性能モデルを生成する。Chomboステンシルの応用実験結果とモデルからの予測を比較し,モデルを検証し,ステンシル上のABFRは誤り回復コスト(400倍まで)と回復時間(4倍まで)で有意な減少を達成できることを示した。このような減少は,高い潜熱誤り率でスケールでの効率的な実行を可能にする。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ソフトウェア ,  回収率 ,  キャラクタリゼーション ,  事例研究 ,  パラメタリゼーション ,  応用プログラム ,  潜熱 ,  道路 ,  誤り率 ,  集束 ,  *ステンシル版
準シソーラス用語： 回復時間 ,  誤り回復 ,  性能モデル ,  *ステンシル計算 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (4件)： 誤差 ,  ステンシル ,  計算 ,  回復