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J-GLOBAL ID：201702230429581958   整理番号：17A1093621

分光データ処理のための新しい自動しきい値選択基準【Powered by NICT】

A new automatic threshold selecting criteria for spectroscopy data processing

著者 (4件)： Liu Yuanjie (State Key Laboratory of Integrated Optoelectronics, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, P.O. Box 912, Beijing 100083, PR China) ,  Yu Yude (State Key Laboratory of Integrated Optoelectronics, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, P.O. Box 912, Beijing 100083, PR China) ,  Zhou Xiaoguang (State Key Laboratory of Integrated Optoelectronics, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, P.O. Box 912, Beijing 100083, PR China) ,  Wang Chong (School of Foreign Languages, Renmin University of China, Beijing 100872, PR China)
資料名： Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems  (Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems)
巻： 161  ページ： 8-14  発行年： 2017年 
JST資料番号： E0150B  ISSN： 0169-7439  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 分光学データ処理のための雑音を除去するために自動しきい値選択のノンパラメトリックおよび教師なし方法を本論文で述べた。しきい値は上昇強度微量に存在するコーナーに従って選択し,Bi台形基準と命名した検出方式を考案した。選択法は非常に単純で,雑音と信号を区別するためのしきい値を最適化するために選別された強度配列に関する基礎的のみの総和を利用した。雑音の分布は前処理されていないまたは信号と雑音間のギャップは明らかではない場合,この方法はフィルタ雑音に適切な値を選択するのに有効である。特異的定量的評価条件下における人工と本物の両データでのテストで,この新しい方法は以前のものよりも優れていることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： ビスマス ,  フィルタ ,  *光学情報処理 ,  雑音 ,  最適化 ,  ノンパラメトリック法 ,  前処理 ,  *データ処理
準シソーラス用語： 定量的評価 ,  選択法 ,  分光学 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 自動しきい値処理 ,  分光法処理 ,  雑音除去

分類 (3件)： 分光分析  (CC03012W) ,  数値計算  (JE02000J) ,  分析化学一般  (CC02010H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 分光 ,  データ処理 ,  しきい値 ,  選択基準