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J-GLOBAL ID:201702230599974178   整理番号:17A1009958

原子スケールシミュレーションによる選択的Siナノ酸化の理解に向けて

Toward the Understanding of Selective Si Nano-Oxidation by Atomic Scale Simulations
著者 (3件):
資料名:
巻: 50  号:ページ: 796-804  発行年: 2017年04月 
JST資料番号: B0966A  ISSN: 0001-4842  CODEN: ACHRE4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高品質のSiゲート酸化膜の合成はナノ秒の時間スケールで行われる。この過程を反応性分子動力学およびハイブリッドMD/モンテカルロシミュレーションを用いた計算の観点から論じた。超高温成長は二種類あり,超薄酸化物の厚さは,T=600K未満では入射酸素種の運動エネルギー,T以上の温度では入射エネルギーおよび成長温度,に依存している。酸化物のエネルギー,酸化温度および表面の曲率を正確に調整することによって,良質なSiO2の厚さの制御が可能であることが分かった。
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分類 (2件):
分類
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酸化物薄膜  ,  塩基,金属酸化物 
タイトルに関連する用語 (5件):
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