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J-GLOBAL ID：201702230676380225   整理番号：17A1810736

高周波集束高分子変換器を用いたフレキシブル回路上の表面欠陥の超音波測定

Ultrasonic measurements of surface defects on flexible circuits using high-frequency focused polymer transducers

著者 (3件)： WAGLE Sanat (UiT Arctic Univ. Norway, Tromso, NOR) ,  HABIB Anowarul (UiT Arctic Univ. Norway, Tromso, NOR) ,  MELANDSO Frank (UiT Arctic Univ. Norway, Tromso, NOR)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 56  号： 7S1  ページ： 07JC05.1-07JC05.3  発行年： 2017年07月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *変換器 ,  *フレキシブル基板 ,  *表面欠陥 ,  *超音波画像 ,  自己組織化 ,  薄膜成長 ,  空洞 ,  *パルス反射法 ,  *集束 ,  ポリエーテルイミド ,  基板
準シソーラス用語： キャビティ ,  *パルスエコー法 ,  *フレキシブル回路 ,  レイヤーバイレイヤー自己集合 ,  *超音波集束

分類 (2件)： 音響信号処理  (BB03050C) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高周波 ,  集束 ,  高分子 ,  変換器 ,  フレキシブル回路 ,  表面欠陥 ,  超音波測定