Zheng Junhua について
Science and Technology on Electronic Test & Measurement Lab.,North University of China, Key Lab.of Instrumentation Science &Dynamic Measurement,North University of China,Ministry of Education について
Tan Qiulin について
Science and Technology on Electronic Test & Measurement Lab.,North University of China, Key Lab.of Instrumentation Science &Dynamic Measurement,North University of China,Ministry of Education について
Tang Licheng について
Science and Technology on Electronic Test & Measurement Lab.,North University of China, Key Lab.of Instrumentation Science &Dynamic Measurement,North University of China,Ministry of Education について
Xiong Jijun について
Science and Technology on Electronic Test & Measurement Lab.,North University of China, Key Lab.of Instrumentation Science &Dynamic Measurement,North University of China,Ministry of Education について
Yadian yu Shengguang について
薄膜 について
残留分極 について
ゾル-ゲル法 について
強誘電性 について
X線回折 について
誘電率 について
電界放出 について
計測システム について
結晶方位 について
誘電損失 について
走査電子顕微鏡 について
多層 について
インピーダンス について
電界放出型走査電子顕微鏡 について
チタン酸ジルコニウム について
Multilayer PT/PZT thin films について
different structures について
piezoelectric materials について
Sol-Gel method について
dielectric properties について
ferroelectric properties について
酸化物薄膜 について
無機化合物一般及び元素 について
塩基,金属酸化物 について
多層 について
PZT について
薄膜 について
調製 について
性能特性 について
研究 について