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J-GLOBAL ID：201702231319785810   整理番号：17A1324470

心血管植え込み式電子装置における静脈血栓形成の危険因子分析:112例報告【JST・京大機械翻訳】

Risk factors for venous thrombosis related to the lead of cardiovascular implan-table electronic device: an analysis of 112 cases

著者 (10件)： Lan Kai (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Wang Nina (済南軍区青島第二療養院,青島,266000) ,  Peng Li (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Zhou Ye (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Huang Ya (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Zhang Ye (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Yuan Hongtao (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Zhang Yuxiao (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Xue Qiao (解放軍総医院心血管内科,北京,100853) ,  Lu Caiyi (解放軍総医院心血管内科,北京,100853)
資料名： Zhonghua Laonian Duo Qiguan Jibing Zazhi  (Zhonghua Laonian Duo Qiguan Jibing Zazhi)
巻： 16  号： 4  ページ： 257-260  発行年： 2017年 
JST資料番号： C3891A  ISSN： 1671-5403  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 目的:心臓血管移植式電子装置(CIED)における静脈血栓症に関連する危険因子を研究し、臨床予防に理論的根拠を提供する。方法:2013年9月から2015年12月までに解放軍総病院の心血管内科でCIEDを使用し、フォローアップ資料の完全な入院患者112例を選択し、術後の血管超音波検査結果によりグループ分け、血栓グループ56例、年齢(71.86±8.35)歳;非血栓症群56例、年齢(71.23±10.62)歳、多変量ロジスティック回帰分析を用いてCIED導体関連静脈血栓形成の危険因子を分析した。結果:両グループの心房細動患者数、移植除細動患者数、抗凝固薬患者数と左室駆出率、全血糖化ヘモグロビンレベル及び手術中の静脈穿刺回数、手術時間、導線量を比較すると、統計学的有意差が認められた(P<0.05)。多変量ロジスティック回帰分析により、心房細動、手術中の静脈穿刺回数、手術時間及び導線量はCIED導体に関連する静脈血栓形成の危険因子であり、抗凝固薬を服用することは保護因子であることが明らかになった。結論:心房細動、静脈穿刺回数、手術時間及び導体数はCIED導体関連静脈血栓形成の独立危険因子である。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： リード線 ,  除細動 ,  *危険因子 ,  導体 ,  病院 ,  抗凝固薬 ,  心臓 ,  心房細動 ,  *電子装置 ,  *血栓症 ,  手術時間
準シソーラス用語： 静脈穿刺 ,  患者数 ,  多変量ロジスティック回帰分析 ,  *静脈血栓症 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： cardiovascular implantable electronic device ,  deep vein thrombosis ,  risk factors ,  cardiovascular disease

分類 (3件)： 循環系の疾患  (GJ03000C) ,  腫ようの外科療法  (GE03033T) ,  血液の疾患  (GK03000F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 心血管 ,  植え込み ,  電子装置 ,  静脈血栓 ,  因子分析 ,  報告