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J-GLOBAL ID:201702231865694377   整理番号:17A1065552

XPSによるバンドアライメント測定手法の信頼性の高い第一原理計算方法への変換

Translating XPS Measurement Procedure for Band Alignment into Reliable Ab Initio Calculation Method
著者 (4件):
資料名:
巻: 121  号: 13  ページ: 7139-7143  発行年: 2017年04月06日 
JST資料番号: W1877A  ISSN: 1932-7447  CODEN: JPCCCK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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固体界面のバンドアライメント計算は物性研究等において基本的な課題である。実験的にバンドアライメントを計算する手法の内,最も信頼性の高い方法はX線光電子分光法(XPS)である。従来,XPSによる計算式を踏襲した密度汎関数法による第一原理バンド計算値はXPS計算値を再現出来ない問題があった。本研究では固体界面でのバンドアライメントのXPS測定・計算手法を第一原理計算へ変換する補正式を検討した。変換に際しては,界面における分極の効果及び格子不整合による格子歪効果を補正に取込んだ。補正式としてバンドアライメントが固体間距離dに依存するものを導出した。この式は,dが大きくなると固体間の相互作用は消失し,逆にdが小さくなると相互作用が増大し,電荷移動により界面に双極子層が形成されることを意味した。補正式を基にルチル型及びアナターゼ型TiO2界面のバンドアライメントを計算したところ実験値と良く一致した。
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半導体結晶の電子構造 
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