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J-GLOBAL ID：201702232297655529   整理番号：17A1569672

プロセス変動とNBTI下における回転進行波発振器の安定性【Powered by NICT】

Stability of Rotary Traveling Wave Oscillators under process variations and NBTI

著者 (4件)： Kuttappa Ragh (Drexel University, ECE Department, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Filippini Leo (Drexel University, ECE Department, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Lerner Scott (Drexel University, ECE Department, Philadelphia, PA 19104, USA) ,  Taskin Baris (Drexel University, ECE Department, Philadelphia, PA 19104, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISCAS  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 共鳴回転クロックはGHz周波数範囲における多相クロック発生のための低電力クロック技術である。本論文では,回転進行波発振器(RTWOs)は90nm技術ノードでのプロセス変動と負バイアス温度不安定性(NBTI)下で解析した。解析は,1)回転リングの物理的形状の変化,2)間およびチップ内トランジスタ変動,3)電源変動と4)NBTIに焦点を当てた。モンテカルロベース解析は110°CSPICEベースのシミュレーションプロセス変動に対する天然のロバスト性,NBTIを示し温度で回転リングの動作周波数および電力消費に及ぼすプロセス変動とトランジスタ加齢の影響を調べた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *進行波 ,  電力消費 ,  周波数 ,  シミュレーション ,  *発振器 ,  多相 ,  ロバスト性 ,  共鳴 ,  クロック ,  トランジスタ
準シソーラス用語： 動作周波数 ,  低電力化 ,  *NBTI ,  *プロセス変動 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  発振回路  (NC05020Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： プロセス変動 ,  NBTI ,  進行波 ,  発振器 ,  安定性