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J-GLOBAL ID：201702232378464493   整理番号：17A1174683

CVDダイヤモンドにおける励起と温度に依存した励起子とキャリア輸送:拡散係数,再結合寿命と拡散長【Powered by NICT】

Excitation and temperature dependent exciton-carrier transport in CVD diamond: Diffusion coefficient, recombination lifetime and diffusion length

著者 (1件)： Scajev Patrik (Institute of Applied Research, Vilnius University, Sauletekio avenue 3, LT-10257 Vilnius, Lithuania)
資料名： Physica B. Condensed Matter  (Physica B. Condensed Matter)
巻： 510  ページ： 92-98  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0676B  ISSN： 0921-4526  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 時間分解誘起吸収(IA)と光誘起過渡回折格子(LITG)法を高純度CVDダイヤモンドにおける非平衡励起子-キャリア拡散と再結合過程の研究に適用した。10~20cm~ 3キャリア密度~10~15からの注入範囲は一光子及び二光子励起を組み合わせることにより達成された。測定を10~750Kの温度範囲で行った。LITG拡散係数は低注入条件下で室温で44cm~2/S値でピークに達した。より低い温度では,はるかに低い励起子拡散係数に移動した。高注入条件下で拡散係数の強い減少が低い拡散係数と多体効果を持つ励起子の形成により説明され,polyexcitonと電子-正孔液滴形成であった。高温フォノンによって制限された拡散係数は弱い注入に依存した。低励起キャリア寿命は200K以上で約700nsであった。より低い温度では,減衰時間は二桁の大きさ,励起子分子の形成によって説明される減少した。最低温度で,高注入でのキャリア再結合速度の増加は多重励起子と電子-正孔液滴のAuger再結合に起因した。が高温では,490meVの活性化エネルギーをもつ再結合速度の増加が観察された。IAとLITG測定の組み合わせは,0.350~μm範囲の有効拡散長を提供し,過剰キャリア密度と温度に強く依存した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： キャリア拡散 ,  フォノン ,  キャリア密度 ,  *励起子 ,  *励起 ,  光子 ,  *拡散距離 ,  *ダイヤモンド ,  電子正孔液滴 ,  非平衡状態 ,  *拡散係数 ,  キャリア寿命 ,  キャリア再結合 ,  高温
準シソーラス用語： 再結合速度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： ダイヤモンド ,  キャリア/励起子拡散 ,  再結合 ,  誘導された吸収 ,  光誘起過渡回折格子

分類 (1件)： 励起子  (BM02120E)

タイトルに関連する用語 (7件)： CVDダイヤモンド ,  励起 ,  励起子 ,  キャリア輸送 ,  拡散係数 ,  寿命 ,  拡散長