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J-GLOBAL ID：201702232380236083   整理番号：17A1635508

プログラマブル配置コントローラを用いた信頼性の高いSEUモニタリングと回復【Powered by NICT】

Reliable SEU monitoring and recovery using a programmable configuration controller

著者 (6件)： Gong Lingkan (School of Computer Science and Engineering, UNSW Sydney, Australia) ,  Kroh Alexander (School of Computer Science and Engineering, UNSW Sydney, Australia) ,  Agiakatsikas Dimitris (School of Computer Science and Engineering, UNSW Sydney, Australia) ,  Nguyen Nguyen T. H. (School of Computer Science and Engineering, UNSW Sydney, Australia) ,  Cetin Ediz (Department of Engineering, Macquarie University, Australia) ,  Diessel Oliver (School of Computer Science and Engineering, UNSW Sydney, Australia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： FPL  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： FPGAは空間における計算タスクのための有望な候補である。しかし,それらはそれらの構成メモリにおける放射線誘起誤差の影響を受けやすい。装置洗浄またはモジュールベース回復による,構成誤差の回収率は一連のリードを含み,FPGAの配置ポートを記述する,高速,柔軟で信頼性のある再構成コントローラによるオンチップ効率的に実行した。本研究では,最近提案されたプログラマブルコントローラの構成(PCC)の信頼性向上,高速で柔軟なであることが示されているが,特に放射線誘発配置誤差に直面して,その信頼性は,これまで研究されていないソフト再構成コントローラを考察した。PCC自体が信頼できることを確実にするために,著者らはハードウェア加速型配置アクセスを活用した新しいソフトウェアベースの割り込み駆動故障回復プロセスと組み合わせた従来の3重モジュラー冗長(TMR)の使用を提案した。利用,誤り回復性能,PCCの信頼性のバランスをとるために設計空間探索を報告した。非常に厳しい放射線環境では,PCCの平均故障時間は25年であり,その非保護対応物の3.5時間と比較して,PCCに影響する構成メモリエラーから回復する27ms程度を行う必要がある。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *制御装置 ,  *信頼性 ,  FPGA ,  プログラマブルコントローラ ,  放射線 ,  ポート ,  故障 ,  ハードウェア ,  再構成 ,  高速度 ,  記憶装置
準シソーラス用語： MTTF ,  設計空間探索 ,  信頼性向上 ,  オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： コントローラ ,  SEU ,  モニタリング ,  回復