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J-GLOBAL ID:201702232508813313   整理番号:17A1359878

曝露されたフローティングゲートアレイに基づく標準ロジックプロセスにおける無力および不揮発性偽造IC検出センサ【Powered by NICT】

A powerless and non-volatile counterfeit IC detection sensor in a standard logic process based on an exposed floating-gate array
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: VLSI Technology  ページ: T102-T103  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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偽造ICは安全で信頼できる電子システムを設計するための脅威となっている。サプライチェーンに入る偽造ICを検出し,防止するために,フローティングゲート(FG)技術を用いたeflash基づく無力不揮発性センサは,0.35μm標準論理プロセスで実証した。環境にFGを曝露することにより,提案したセンサは,露出したFG上に蓄積された電荷に影響を及ぼす物理的改竄試みを記録することができる。試験結果は,電力を使用できる場合はいつでも温度スパイク,湿度変化,又は増加したダスト粒子密度のような異常な事象はセンサpowerlesslyにより記録し,後に読み出しと解析できることを確認した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (2件):
分類
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半導体集積回路  ,  物的流通 

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