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J-GLOBAL ID：201702232632345193   整理番号：17A1554977

次世代I/Oシステムの開発と最適化を支援するためのSkel拡張【Powered by NICT】

Extending Skel to Support the Development and Optimization of Next Generation I/O Systems

著者 (12件)： Logan Jeremy ,  Choi Jong Youl ,  Wolf Matthew ,  Ostrouchov George ,  Wan Lipeng ,  Podhorszki Norbert ,  Godoy William ,  Klasky Scott ,  Lohrmann Erich ,  Eisenhauer Greg ,  Wood Chad ,  Huck Kevin
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CLUSTER  ページ： 563-571  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 記憶と記憶階層がより深く,より複雑なので,この階層を使用する新しいミドルウェア解を探索することを可能にする新しいベンチマークと評価ツールを持つことが重要である。SkelはHPC I/O性能を研究するこのプロセスの自動化と微細化を目的としたツールである。ドメイン固有モデルにより決定された,応用I/Oカーネル/ベンチマークを生成することにより動作する。Skelは新しい状況に対処し,新しい研究課題に答えるために拡張するためのいくつかの技術を提供する。例えば,遠隔ユーザのためのI/O性能問題のトラブルシューティングにSkelを用いたI/Oシステムモデルの微細化と,実行時モニタリングと性能分析のための機構の開発と試験を容易にするような多様なユースケースを示した。エクサスケール科学データ管理のための圧縮技術の研究を支援するSkelへのデータ中心拡張を論じた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ミドルウェア ,  精密化 ,  ベンチマーク ,  *最適化 ,  データ管理 ,  システムモデル ,  記憶階層 ,  自動化 ,  性能分析
準シソーラス用語： ユースケース ,  トラブルシューティング ,  評価ツール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 生産に関する問題一般  (YA01081G) ,  化学プロセスの解析  (XC01030R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 次世代 ,  開発 ,  最適化 ,  支援 ,  拡張