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J-GLOBAL ID：201702232850022306   整理番号：17A1122002

2 チオピリジン誘導体のo-キシレン橋対称二量体における逆分子内スタッキング:立体配座安定性の評価【Powered by NICT】

Reverse Intramolecular Stacking in o-Xylene Bridge Symmetrical Dimers of 2-Thiopyridine Derivative: Assessment of the Conformational Stability

著者 (6件)： Kumar Ranjeet (Department of Chemistry (Centre of Advanced Studies), Institute of Science, Banaras Hindu University, Varanasi, 221005, India) ,  Gaurav Archana (Department of Chemistry (Centre of Advanced Studies), Institute of Science, Banaras Hindu University, Varanasi, 221005, India) ,  Pal Shiv (Indian Institute of Science Education and Research, Pune, Dr. Homi Bhabha Road, Pashan, Pune, 411008, India) ,  Kumar Krishnan R. (Laboratory of X-ray Crystallography, Indian Institute of Chemical Technology, Hyderabad, 500 607, India) ,  Sridhar Balasubramanian (Laboratory of X-ray Crystallography, Indian Institute of Chemical Technology, Hyderabad, 500 607, India) ,  Tewari Ashish K. (Department of Chemistry (Centre of Advanced Studies), Institute of Science, Banaras Hindu University, Varanasi, 221005, India)
資料名： Chemistryselect  (Chemistryselect)
巻： 2  号： 11  ページ： 3249-3255  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2528A  ISSN： 2365-6549  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ここでは,分子内スタッキングと立体配座解析1 3の研究のための2 チオピリジン誘導体のo-キシレンに基づく対称性二量体を報告した。全化合物の立体配座解析は固体,溶液および気体状態で行った。興味深いことに,全ての化合物は隣接する環の間の逆分子内積層立体配座を示した。全ての中で,化合物3は逆分子内積層立体配座を示し,多型特性を示した。多形研究は,単結晶X線回折,結晶充填における分子間相互作用,オーバレイ図,DSC分析とH irshfeld表面分析により達成した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 表面分析 ,  結晶充填 ,  *対称性 ,  気相 ,  分子間相互作用 ,  *二量体 ,  *立体配座 ,  アルキルベンゼン
準シソーラス用語： 単結晶X線回折 ,  立体配座解析 ,  *配座安定性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 立体配座解析 ,  DFT計算 ,  Hirshfeld表面分析 ,  分子内スタッキングと多形

分類 (2件)： 複素環式化合物の結晶構造  (BK08030Q) ,  分子構造と性質の実験的研究  (CB01020I)

物質索引 (1件)： o-キシレン

タイトルに関連する用語 (7件)： ピリジン誘導体 ,  o-キシレン ,  対称 ,  二量体 ,  スタッキング ,  立体配座安定性 ,  評価