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J-GLOBAL ID：201702233471682758   整理番号：17A1266985

変異解析とハイブリッド遺伝的アルゴリズムを用いた自動テストケースの生成【Powered by NICT】

Generation of automatic test cases with mutation analysis and hybrid genetic algorithm

著者 (3件)： Khan Rijwan (Department of Computer Engineering, Jamia Millia Islamia - New Delhi) ,  Amjad Mohd (Department of Computer Engineering, Jamia Millia Islamia - New Delhi) ,  Srivastava Akhilesh Kumar (Department of Computer Engineering, ABES Engineering College - Ghaziabad)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CICT  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ソフトウェアテストは,ソフトウェア開発ライフサイクルの最も重要で高価な(時間とコストの点で)相の一つである。過去数十年にわたり多くの研究が自動ソフトウエア試験プロセスに行われてきたが,動的記憶割当のために,ソフトウェアである非常に挙動に予測できない。ソフトウェアテストプロセスの効率を改善するために適用した異なるメタ発見的アルゴリズム。変異試験は,いくつかの変異体はプログラム/ソフトウエアとテスタは試験プロセス[4]これらの変異体を見つけるにおける熱心注入した1種類のソフトウェアテストである。本論文ではハイブリッド遺伝的アルゴリズムは変異試験のためのデータフロー試験法を用いて自動的に試験データを生成するために提案した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ソフトウェア ,  回路試験器 ,  動的記憶割当 ,  ソフトウェア開発 ,  ライフサイクル ,  *変異 ,  *自動試験
準シソーラス用語： 試験データ ,  試験方法 ,  データフロー ,  発見的アルゴリズム ,  ソフトウェアテスト ,  *変異解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (3件)： 変異解析 ,  ハイブリッド遺伝的アルゴリズム ,  テストケース