抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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高性能計算施設上で動作するもの科学的応用により生成された並列I/O負荷のスケールと強度の増加に伴い,特にI/O性能変動の根本原因とH PC環境の劣化,理解I/O動力学は,HPCコミュニティにとって非常に重要になってきた。本論文では,大規模並列I/Oの性能変動性を捕捉するために生産リーダシップクラス貯蔵システムに関する広範なI/O測定試験を実行した。これらの結果の解析とその統計的相関は貯蔵システムの特性とI/O性能変動の根本原因についての幾つかの貴重な洞察を明らかにした。さらに著者らは,これらの知見を活用とデータストライピングと配置を最適化することにより,並列I/Oの性能を向上させることができるI/Oミドルウェア設計リファクタリングを提案した。予備評価結果は,提案した方法が平均当たりプロセス書込みレイテンシを少なくとも80%削減,少なくとも20%最大当たりプロセス書込みレイテンシによることを実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】