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J-GLOBAL ID：201702234727904657   整理番号：17A1037917

非対称性と不均一性を受ける微分相互接続におけるアイダイアグラム劣化を予測するための摂動的アプローチ【Powered by NICT】

A perturbative approach to predict eye diagram degradation in differential interconnects subject to asymmetry and nonuniformity

著者 (5件)： Manfredi Paolo (Electromagnetics Group, Department of Information Technology, IDLab, Ghent University - imec Technolgiepark-Zwijnaarde 15, 9052 Gent, Belgium) ,  Wu Xinglong (EMC Group, Department of Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo Da Vinci 32, 20133 Milano, Italy) ,  Grassi Flavia (EMC Group, Department of Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo Da Vinci 32, 20133 Milano, Italy) ,  Vande Ginste Dries (Electromagnetics Group, Department of Information Technology, IDLab, Ghent University - imec Technolgiepark-Zwijnaarde 15, 9052 Gent, Belgium) ,  Pignari Sergio A. (EMC Group, Department of Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Piazza Leonardo Da Vinci 32, 20133 Milano, Italy)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SPI  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,不均一性と幾何学的非対称性により影響された差別的な相互接続の信号完全性(SI)解析のための新しいフレームワークを提案した。適切な不均一伝送線路(TL)方程式を摂動法を用い,平均単位長あたりの(p.u.l.)パラメータをもつ参照均一微分線(DL)の応答に関する摂動として得られた応答劣化を説明することを可能にし,周波数領域で解いた。この解釈に従って,問題は,非対称不均一性の摂動効果を考慮した付加的な,等価分布信号源をもつ参照均一線の標準TL方程式として,書き直される。この等価摂動問題は,周波数領域で反復的に解き,対応する時間領域挙動を逆フーリエ変換によって取得した。さらに,局所摂動は遠端差動モード(DM)量に及ぼす影響は無視できることが考慮した,平均p.u.l.パラメータを有する均一なDLモデルはSPICEにおける透過DM電圧のSI性能評価,同等の結果は,不均一伝送線路トポロジーの煩雑な実装を回避しながら得ることができることを示すために用いた。手法には,幾何学的非対称性と不均一性マイクロストリップDL被験者による20Gbps伝送のためのアイダイアグラム劣化の予測に適用した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 周波数領域 ,  *相互接続 ,  *非対称性 ,  マイクロストリップ線路 ,  *アイパターン ,  電圧 ,  不均一線路 ,  *不均一性 ,  *摂動 ,  性能評価 ,  摂動法 ,  *微分 ,  位相幾何学
準シソーラス用語： 時間領域 ,  信号完全性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： パターン認識  (JE07000S) ,  システム設計・解析  (IA02030D) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 非対称性 ,  不均一性 ,  微分 ,  相互接続 ,  アイダイアグラム ,  予測 ,  摂動