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J-GLOBAL ID:201702234753741186   整理番号:17A1597739

LabVIEWに基づく高精度レーザ干渉測距システム【JST・京大機械翻訳】

High-precision laser interferometric displacement measurement system based on LabVIEW
著者 (3件):
資料名:
巻: 40  号:ページ: 172-177  発行年: 2017年 
JST資料番号: C3330A  ISSN: 1002-7300  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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微小変位と直線度誤差は工業測定における重要な幾何学的パラメータとして、その測定値は精密機器の製造と測定に広く応用されている。しかし、工業技術の発展に伴い、従来の測定機器のコリメータについては、精度が高くなく、リアルタイム性が強くなく、速度が遅いなどの欠点があり、高速、高精度、リアルタイム監視の要求を完全に満たすことができないため、LabVIEWに基づく高精度レーザー干渉測定システムを提案した。変位の位置と直線性を測定し,解析した。二重周波数レーザ干渉測定の原理に基づいて,光電子距離計によって測定された変位信号の光信号を設計し,光電変換を通して電気信号を得て,LabVIEWプラットフォームを用いて操作インタフェイスとデータ処理と誤差解析を行った。システムの実験結果は,長さ30cmの軌道検出に対して,相対誤差が0.2nm以下であり,システムが単純構造,高速測定,高いリアルタイム性などの利点を持ち,変位と直線性の広範囲の測定を実現し,工業変位測定に広く使用できることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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