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J-GLOBAL ID：201702234776756387   整理番号：17A1482776

電気紡糸したBi-2212ナノワイヤネットワークのピン止め力のスケーリング【Powered by NICT】

Pinning force scaling of electrospun Bi-2212 nanowire networks

著者 (5件)： Koblischka Michael R. (Institute of Experimental Physics, Saarland University, Campus C 6 3, 66123 Saarbruecken, Germany) ,  Gokhfeld Denis (Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Akademgorodok 50/38, Krasnoyarsk 660036, Russia) ,  Chang Crosby (Institut Jean Lamour, UMR CNRS-Universite de Lorraine, 54506 Vandoevre-les-Nancy, France) ,  Hauet Thomas (Institut Jean Lamour, UMR CNRS-Universite de Lorraine, 54506 Vandoevre-les-Nancy, France) ,  Hartmann Uwe (Institute of Experimental Physics, Saarland University, Campus C 6 3, 66123 Saarbruecken, Germany)
資料名： Solid State Communications  (Solid State Communications)
巻： 264  ページ： 16-18  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0499A  ISSN： 0038-1098  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 磁束ピン止め力はエレクトロスピニング法により作製した超伝導Bi系2Sr2CaCu二零八(Bi 2212)ナノワイヤの異なるネットワーク試料について決定した。SQUID磁力計広い温度範囲10K<T<35Kで決定した磁化データ,強い超伝導信号がを採用した。ピン止め力のスケーリング分析を適用して得られたデータを解釈することであった。純粋およびLiをドープした両Bi2212ナノワイヤネットワークは0時間~0.11のピーク位置,時間0=0.2結晶粒界または拡張欠陥での磁束ピン止めの期待値よりも小さいことを示した。このようなネットワークを通って流れる電流に対して,結晶学的異方性とパーコレーションが重要な役割を果たし,バルク試料と比較して,減少したピーク位置をもたらした。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ピン止め ,  *ネットワーク ,  異方性 ,  リチウム ,  磁束ピン止め ,  *エレクトロスピニング ,  パーコレーション ,  ドーピング ,  超伝導 ,  電流 ,  結晶粒界 ,  *ナノワイヤ ,  磁化
準シソーラス用語： SQUID磁力計 ,  *Bi2212 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： B電気紡糸 ,  A Bi-2212超伝導体 ,  D磁束ピン止め ,  Dピン止め力スケーリング

分類 (2件)： 金属系超伝導体の物性  (BM04022R) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電気紡糸 ,  Bi-2212 ,  ナノワイヤ ,  ピン止め ,  スケーリング