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J-GLOBAL ID:201702235099857077   整理番号:17A2001675

マイクロ波周波数下および20°Cと250°Cの間の高誘電率の固体の誘電特性測定法【Powered by NICT】

Dielectric properties measurement methods for solids of high permittivities under microwave frequencies and between 20 and 250°C
著者 (6件):
資料名:
巻: 122  ページ: 339-345  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0975A  ISSN: 0255-2701  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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はセラミック材料の誘電特性測定の相互比較の結果を提示し,考察し,500MHzから20GHzまでのマイクロ波周波数領域と20°Cから250°Cまでの種々の温度で同じセラミック試料を厳密に三つの異なる技術を用いて試験した:ネットワーク分析器に結合した同軸プローブを用いた反射法と二種類の共振器技術(円筒および長方形)。本研究では,各技術の利点と欠点を強調し,誘電率の実数部ε’_Rと虚数部ε」_rは異なる形状と体積の試料を用いて決定した有利と別々にできることを示した。誘電特性に加えて,材料の表面状態に関する貴重な情報も得ることができた。最後に,異なる方法を組み合わせた便益と広い温度範囲または周波数で非常に正確な結果を得るために賢明な方法であることを示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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反応操作(単位反応)  ,  装置内の物質移動及び一般  ,  抽出 
タイトルに関連する用語 (4件):
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