Chen Zhe について
School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology (HIT), Harbin, 150001, China について
Chen Zhe について
Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, MD 20899, USA について
Song John について
Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, MD 20899, USA について
Chu Wei について
Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, MD 20899, USA について
Soons Johannes A. について
Physical Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, MD 20899, USA について
Zhao Xuezeng について
School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology (HIT), Harbin, 150001, China について
Forensic Science International について
ブランド について
不整合 について
マッチング について
キャラクタリゼーション について
類似性 について
画像 について
アルゴリズム について
顔画像 について
誤り率 について
偽陰性 について
誤検出 について
有意差 について
表面トポグラフィー について
画像相関 について
離散化 について
科学捜査 について
弾道学 について
銃器証拠同定 について
調和マッチング細胞(CMC) について
収束 について
固体デバイス製造技術一般 について
調和 について
整合 について
細胞 について
CMC について
法 について
骨盤位 について
顔画像 について
相関 について
収束 について
アルゴリズム について