文献

J-GLOBAL ID：201702235216513081   整理番号：17A0414126

多周波数照射による層状半透明物体の内部スライスの回復【Powered by NICT】

Recovering Inner Slices of Layered Translucent Objects by Multi-Frequency Illumination

著者 (5件)： Tanaka Kenichiro (Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Mukaigawa Yasuhiro (Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology, Nara, Japan) ,  Kubo Hiroyuki (Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology, Nara, Japan) ,  Matsushita Yasuyuki (Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University, Osaka, Japan) ,  Yagi Yasushi (Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, Osaka, Japan)
資料名： IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence  (IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)
巻： 39  号： 4  ページ： 746-757  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0519B  ISSN： 0162-8828  CODEN： ITPIDJ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,半透明物体の内部スライスの外観を回復する方法を述べた。層状半透明オブジェクトの外見は,すべての層の合計出現であり,個々層は深さ依存点像分布関数(PSF)により不鮮明にした。深さ依存PSFの低域特性の違いを利用して,個々の内部スライスの外観を得るための多周波数照射法を開発した。具体的には,市松模様の照明の空間周波数を変化させて対象物体を観察することにより,提案手法では,計算による内部スライスの外観を回復する。半透明物体の不均一性に起因する不均一伝送の効果を調べ,内部スライス外観の空間平滑性の仮定の下で画素PSF推定に基づく明確な内部スライスを回収するための方法を開発した。シミュレーションにより提案した方法の精度を定量的に評価と実世界シーンを用いて忠実な回復を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 空間周波数 ,  *透明材料 ,  不均一性 ,  平滑度 ,  点像分布関数 ,  画素 ,  *周波数
準シソーラス用語： *半透明 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 多周波 ,  層状 ,  半透明 ,  物体 ,  スライス ,  回復