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J-GLOBAL ID：201702235268184278   整理番号：17A1347499

N型結晶シリコン太陽電池のための導電性ペースト中のガラスフリットの特性化【Powered by NICT】

Characterization of Glass Frit in Conductive Paste for N-Type Crystalline Silicon Solar Cells

著者 (5件)： Aoyama Takayuki (Development & Engineering Group, Noritake Co., Limited, Miyoshi, Japan) ,  Aoki Mari (Semiconductor Laboratory, Toyota Technological Institute, Nagoya, Japan) ,  Sumita Isao (Semiconductor Laboratory, Toyota Technological Institute, Nagoya, Japan) ,  Yoshino Yasushi (Development & Engineering Group, Noritake Co., Limited, Miyoshi, Japan) ,  Ogura Atsushi (School of Science & Technology, Meiji University, Kawasaki, Japan)
資料名： IEEE Journal of Photovoltaics  (IEEE Journal of Photovoltaics)
巻： 7  号： 5  ページ： 1313-1318  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2305A  ISSN： 2156-3381  CODEN： IJPEG8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコン太陽電池のエミッタのための接触銀ペーストはシャントを作成し,エミッタでの銀微結晶に起因するキャリア再結合を増加させるために指摘されている。しかし,これらの観察された電気的損失は微結晶だけでなくペーストの成分の複合効果が発生して,微結晶は主にこれらの損失を引き起こすかどうかは未知のままである。本研究では,ペースト中の最も重要な構成成分であるガラスフリット「それ自身」は,電気損失にどのように影響するか「浮遊接触法」を適用して調べた。さらに,フリットとシリコン表面との間の接触界面も損失の機構を明らかにするために検討した。金属酸化物ガラスフリット自体はシャントとn型太陽電池における再結合を引き起こす劇的に,開回路電圧の低下をもたらすことが分かり,焼成中のシリコン表面での酸化還元反応による金属鉛微結晶を生成する。シャンティングは金属鉛に由来し,再結合は,ただ反応によるシリコンエミッタへの拡散不純物や欠陥により誘起される。太陽電池における電気的損失は,銀微結晶だけでなく,ガラスフリット自体に導かれる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ペースト ,  鉛 ,  *ケイ素 ,  銀 ,  電気損失 ,  *キャラクタリゼーション ,  微結晶 ,  金属酸化物 ,  キャリア再結合 ,  *導電性 ,  *フリット ,  *太陽電池
準シソーラス用語： 開回路電圧 ,  *シリコン太陽電池 ,  *結晶シリコン太陽電池 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 結晶シリコン太陽電池 ,  導電性 ,  ガラス ,  フリット ,  特性化