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J-GLOBAL ID：201702235576959152   整理番号：17A1027367

透過スキャンにおけるスキャンチェーン故障診断のための故障データ整理【Powered by NICT】

Fail data reduction for diagnosis of scan chain faults under transparent-scan

著者 (1件)： Pomeranz Irith (School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, U.S.A.)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： VTS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 設計のスキャン論理に影響するスキャンチェーン故障診断に重要である。しかし,スキャンチェーン故障は,初期失敗データ収集プロセスを終了する必要があることを失敗データの大量を生成した。透過スキャンと呼ばれるテスト生成へのアプローチは,従来のスキャンベース試験でスキャンチェーン故障診断のためのいくつかの利点を持つことが示された。これらの利点の一つは,コンパクトなテストシーケンスを可能に発生することである。これはスキャンチェーン故障が産生する失敗データの体積を減少させる。本論文の目的は,さらに,テスト圧縮を越えた失敗データの量を減らすことである。透過スキャン配列の異なるクロックサイクルは類似した診断情報を生成することを観測した。,配列のクロックサイクルのサブセットのための故障データを格納するために十分である。これらクロックサイクルを選定するための手順について述べた。実験結果から,塩基性,より包括的セットのスキャンチェーン故障に対して提示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *データ圧縮 ,  塩基性 ,  *走査 ,  データ収集 ,  *故障診断 ,  *故障 ,  部分集合
準シソーラス用語： テスト生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 透過 ,  スキャン ,  チェーン ,  故障診断 ,  故障 ,  データ整理