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J-GLOBAL ID：201702235956387050   整理番号：17A1636945

LO漏れを用いた簡単な2 トン発生法を特徴とする高速THz誘電率測定システム【Powered by NICT】

A high-speed THz permittivity measurement system featuring a simple 2-tone generation method using LO leakage

著者 (7件)： Jyo Teruo (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan) ,  Hamada Hiroshi (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan) ,  Kitayama Daisuke (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan) ,  Yaita Makoto (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan) ,  Moutaouakil Amine El (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan) ,  Matsuzaki Hideaki (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan) ,  Nosaka Hideyuki (NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IMS  ページ： 1527-1530  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： テラヘルツ波バンドでの迅速で簡便な誘電率測定システムを提案した。使用した誘電率を測定することである2 トン法。単純2 トン信号を生成するために,送信機で単一周波数発振器とLO漏れを用いる方法を提案した。二トーン位相差の迅速測定のために,受信機に適用した簡単なダイオードを用いた自己ヘテロダイン技術。提唱されたシステムは,従来のシステムと比較して1/200である一点で0.03msの測定時間を6%以下の誤差であった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： テラヘルツ波 ,  *誘電率 ,  ダイオード ,  *高速度 ,  *計測システム ,  発振器 ,  送信機 ,  受信機 ,  迅速測定 ,  位相差 ,  単一周波数 ,  *誘電率測定
準シソーラス用語： 測定時間 ,  ヘテロダイン方式 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 通信方式一般  (ND07010E) ,  無線通信一般  (ND08010L) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (1件)： 誘電率測定