LI Cheng について
Beihang Univ., Beijing, CHN について
LI Cheng について
Univ. California, Berkeley, USA について
LI Cheng について
Sci. and Technol. on Metrology and Calibration Lab., Beijing, CHN について
PENG Xiaobin について
Beihang Univ., Beijing, CHN について
PENG Xiaobin について
Sci. and Technol. on Metrology and Calibration Lab., Beijing, CHN について
LIU Qianwen について
Beihang Univ., Beijing, CHN について
LIU Qianwen について
Sci. and Technol. on Metrology and Calibration Lab., Beijing, CHN について
GAN Xin について
Tsinghua Univ., Beijing, CHN について
LV Ruitao について
Tsinghua Univ., Beijing, CHN について
FAN Shangchun について
Beihang Univ., Beijing, CHN について
Measurement Science and Technology について
光ファイバ について
Fabry-Perot干渉計 について
グラフェン について
非破壊検査 について
厚み測定 について
van der Waals力 について
微小共振器 について
複素屈折率 について
Raman分光法 について
原子間力顕微鏡 について
膜厚測定 について
マイクロ共振器 について
干渉測定と干渉計 について
光ファイバ について
干渉 について
グラフェン について