文献

J-GLOBAL ID：201702237455727790   整理番号：17A1732805

グラフェンの非線形屈折率のスペクトル依存性Z走査測定【Powered by NICT】

Spectrally-dependent Z-scan measurement of the nonlinear refractive index of graphene

著者 (3件)： Thakur Siddharatha (Electrical and Computer Engineering, Waterloo Institute for Nanotechnology, UNIVERSITY OF WATERLOO, Waterloo, Canada) ,  Semnani Behrooz (Electrical and Computer Engineering, Waterloo Institute for Nanotechnology, UNIVERSITY OF WATERLOO, Waterloo, Canada) ,  Majedi Amir Hamed (Electrical and Computer Engineering, Waterloo Institute for Nanotechnology Physics and Astronomy, UNIVERSITY OF WATERLOO, Waterloo, Canada)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： PN  ページ： 1-2  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： グラフェンの非線形光学挙動は研究の重要な話題となっている,電子的および機械的性質の成長リストにもう一つのファセットを付加した。本研究では,グラフェンの屈折(《2)の非線形屈折率,800~1050nmの範囲の励起のスペクトル依存性を調べ,Z走査法を用いた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *屈折 ,  非線形光学 ,  *グラフェン ,  ファセット ,  *走査 ,  機械的性質
準シソーラス用語： Z走査法 ,  *非線形屈折率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 非線形光学  (BD05000T)

タイトルに関連する用語 (4件)： グラフェン ,  非線形屈折率 ,  スペクトル依存性 ,  走査