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J-GLOBAL ID:201702237464069207   整理番号:17A1345126

両極性伝導とTFETの高周波特性に及ぼすドレインドーピング工学の影響【Powered by NICT】

Influence of Drain Doping Engineering on the Ambipolar Conduction and High-Frequency Performance of TFETs
著者 (3件):
資料名:
巻: 64  号:ページ: 3541-3547  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,トンネルFET(TFET)の両極性伝導と高周波性能に対する提案されたドレインドーピング工学の影響を二次元TCADシミュレーションを用いて調べた。提案したTFET構造はドレイン側の低ドープ領域より上の高ドープ領域の使用に基づいている。は二つの領域,他の低ドーピングの以上の高いドーピングにドレインを分割する場合,チャンネル ドレイン界面におけるトンネル幅は増加することを示した。トンネル幅のこの増加は,TFETにおける両極性電流のかなりの減少を引き起こす。さらに,相互コンダクタンス(g_m),ソースに対するゲートとドレイン-ゲート容量,単位利得カットオフ周波数(f_T)に関するメリットの高周波性能を解析した。ドレインドーピング領域の組み合わせは,高周波性能を高めることができることが分かった。さらに,提案した技術は,ON電流レベルを低下させなかった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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